广告:时间还剩10
 
免费订阅一年期杂志
天线 解决方案 信号分析
新品展示
 
罗德与施瓦茨携手 Comprion 公司宣布推出用于eSIM 设备测试的 R&S 测试配置文件
录入时间:2022/6/15 16:08:24

传统 SIM 卡接口的移动设备先前需要使用专用的测试 SIM 卡在测试实验室中使用综测仪进行测试。现在,对于不支持物理上更换eSIM(嵌入式 SIM)的移动设备,可通过 COMPRION eSIM 测试配置文件服务(Test Profile Service)以数字方式进行配置。

罗德与施瓦茨联合 Comprion 公司现已开发出 R&S 专用的 eSIM 测试配置文件,以便使用罗德与施瓦茨的综测仪(如 R&S CMX500)进行测试。对于各种类型的移动终端,市场上现有的原型和商用 eSIM 设备(例如手机、平板电脑、可穿戴设备或消费者物联网设备)可通过 eSIM 测试配置文件下载,并在实验室中使用 R&S 综测仪进行相应配置。

eSIM 测试配置文件服务可通过 Comprion 公司提供的订阅服务在线获取,并且完全符合GSMA SAS 标准,因此可以满足市场需求。除了罗德与施瓦茨专用的测试配置文件,其中还包括一个 eSIM  测试配置文件库,以及一项 GSMA 标准化远程 SIM 配置服务,用于向 eSIM 设备提供测试配置文件。这项服务目前在市场上也是独特而先进的。

Comprion 公司首席创新经理 Marcus Dormanns 博士表示:“我们很高兴那些以往使用 R&S 综测仪测试移动设备的测试实验室和设备制造商们现在也可以方便地在实验室中快速、安全、高效地测试 eSIM 设备,从而加速最新技术上市。”

罗德与施瓦茨的高级产品经理 Gerhard Götz 补充道:“我们的客户将非常高兴听到我们与 Comprion 公司合作,通过 eSIM 测试配置文件服务提供我们的专用测试配置文件。在待测试的 eSIM 设备上下载并安装我们的测试配置文件,将能够解决大多数客户在使用我们的 R&S CMW500 或 R&S CMX500 测试产品时面临的主要问题。”


上一篇:Qorvo 助力简化 GaN P... 下一篇:普源精电发布全新系列微波信号发生...

版权声明:
《微波杂志》网站的一切内容及解释权皆归《微波杂志》杂志社版权所有, 未经书面同意不得转载,违者必究!
《微波杂志》杂志社。


友情链接
  首页 | 关于我们 | 联络我们 | 加入我们 | 服务条款 | 隐私声明
Copyright© 2024: ; All Rights Reserved.
粤公网安备 44030402004704号    备案序号:粤ICP备12025165号-4