（本页是纯文字版，点此阅读完整版全文）

高密度连接增强了PXIe测试与测量功能

The Phoenix Company of Chicago, Inc., www.phoenixofchicago.com

制造自动化的迅猛发展和各行各业产品复杂性的不断提高，不断催生对模块化测试解决方案的强烈需求。PXIe平台是先进测试和测量领域最受欢迎的选择之一。该平台使用从直流到毫米波的各种仪器模块，为验证和生产测试提供灵活、高性能的解决方案。

这些模块包括交换机、多路复用器、矢量和信号分析仪等仪器，通常在模块面板上使用多达20个SMA连接器，多路复用器模块则使用50多个SMB连接器。整个频谱对更高性能PXIe模块的需求，使得对连接器性能的要求超出了传统连接器所能提供的范围。Phoenix公司的仪器连接器系列提供了新一代的机械和电气性能，以卓越的性能提高了密度。

仪器模块

PXI机箱是测试系统的基础，有固定数量的插槽用于接收测试模块。大多数模块只有一个插槽宽度，但根据功能或连接器所需的空间，也可能增加到双倍或三倍插槽宽度。使用许多射频连接器（如SMB）的模块通常需要双倍插槽宽度来安装所有连接器，从而浪费了宝贵的机箱空间。现有的多针连接器可以安装在单插槽模块上，但连接器性能有限，可能会降低带宽规格。

触点设计和性能

Phoenix公司开发了一种新型多针连接器系列（图1），以提高单插槽效率。该系列采用了高密度的PkZ^®微波触点，其电气性能也超过了现有的SMB或多针连接器。该连接器系统的核心是PkZ微波触点，旨在克服模块化配接应用中的公差差距。要同时配接多达53个微波触点，就必须严格控制设计和制造公差，以避免超出连接器系统的配接极限。PkZ通过空气介质和对内部导体比率的严格控制，提供了一种宽松的解决方案，即使在未完全匹配的情况下也能表现出色。

图1：53针面板安装插座。

图2显示了一对PkZ触点在18GHz频率下的门控驻波比性能。该图显示了PkZ触点在配接间隙条件下提供恒定阻抗的独特能力。该图显示了代表不同配接条件下触点的三条轨迹：完全配接、0.025英寸间距和0.050英寸间距。从图中可以看出，在此配合范围内，材料性能没有差异。这一点非常重要，因为公差叠加总会发生。从电气性能上消除了这一机械因素，使PkZ能够在高密度平台中以更高的频率工作，并使其有别于传统的多针连接器。

图2：三种配接条件下的门控驻波比。

外壳

如前所述，连接器最重要的设计目标之一是限制微波性能关键部位的公差。大量微波触点的可靠匹配需要仔细考虑多针外壳中的以下机械特性：径向接触稳定性、接触保持力、轴向配合公差、插入力、分离力、电缆类型、端接和电缆管理。

要实现上述每个目标，都需要在触点和外壳中采用独特的设计，以实现坚固耐用的结构，并达到毫米波区域的工作精度。PkZ触点卡入外壳，在长度和直径上具有限制径向浮动的特殊设计。插头和插座外壳具有相应的特性，以提供最佳的接触稳定性。规定每个触点在外壳中的保持力至少为10磅。每种触点设计都有一个与电缆屏蔽焊接的终端，以实现卓越的电气和机械性能。

插头外壳中的PkZ触点径向稳定性通过导向销和电缆导向板得到进一步增强，电缆导向板可将电缆的弯曲半径与PkZ触点隔离。这样就无需使用传统的后壳和夹具，因为后壳和夹具可能会使电缆变形并影响微波性能。外壳有13引脚、26引脚、28引脚和53引脚四种，均为单插槽宽度。在这一级别，插入力和分离力变得非常重要。图3所示的集成式螺钉可以解决这个问题，它不仅可以将配对的两半引到一起，还能以受控的方式进行分离，以避免损坏。

图3：53针插头外壳

50Ω和75Ω电缆通用性

PkZ触点可容纳标准50Ω RG电缆组和1.37mm电缆，提高了在单插槽模块内布线等应用中的灵活性。对于更高的频率，可提供适用于50GHz的RG-405电缆和适用于67GHz的0.047英寸M17/151电缆的触点。75Ω触点的规格为12，性能可达18GHz。图4显示了Harbour Industries SS75086电缆上一对配对的75Ω PkZ系列的18GHz门控性能。

图4：75Ω PkZ系列的门控性能。

Phoenix的多针连接器和微波触点具有一些特殊功能，旨在为PXI测试市场提供一种新选择，即用高密度封装提供高频性能。